Keithley 4200半導體特性分析系統

產品簡介
Keithley 4200半導體特性分析系統
使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和超快脈沖 I-V 測量

產品型號：

更新時間：2025-09-16

廠商性質：生產廠家

訪問量：2935

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

Keithley 4200半導體特性分析系統

• 使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

• 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

• 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

• 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

• 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• 用戶可配置低電流功能，個性化輸出通道名稱，查看實時測試狀態

• NBTI/PBTI 測試，隨機電報噪聲，非易失內存設備，穩壓器應用測試

型號	說明
4200A-SCS-PK1	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK1 包括：
高分辨率 IV 套件	• 4200A-SCS 參數分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4200-PA 前置放大器
	• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200A-SCS-PK2	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件	包括：
	• 4200A-SCS 參數分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 電容-電壓模塊
	• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200A-SCS-PK3	210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件	4200A-SCS-PK3 包括：
	• 4200A-SCS 參數分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4210-SMU
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 電容-電壓模塊
	• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200-BTI-A	用于使用尖.端 CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量4200-BTI-A 包括：
超快 NBTI/PBTI 套件	• 4225-PMU 超快 I-V 模塊
	• 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊
	• 自動化檢定套件 (ACS) 軟件
	• 超快 BTI 測試項目模塊
	• 電纜