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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚紫外分光配光測量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品●用軟件批量控制電源和測量儀器
產(chǎn)品分類
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根據(jù)配光測量系統(tǒng)的測量項目
總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關(guān)色溫、Duv、主波長、刺激純度顯
色指數(shù)Ra、R1至R15
峰值波長、半值范圍
* 1：測量期間安裝樣品的方向。
底座朝下：水平面安裝
底座側(cè)：垂直面 安裝
*2：配光測量的測量波長范圍為250～850nm
*3：可選產(chǎn)品請參考總光通量測量系統(tǒng)規(guī)格頁.
桌面型設(shè)備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
受光部一側(cè)為1軸，樣品側(cè)為1軸的驅(qū)動系統(tǒng)。
由于樣品可以放置在平坦的表面上，因此測量再現(xiàn)性和位置調(diào)整很容易。
適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。
桌面型設(shè)備。這是一般配光裝置的光學(xué)系統(tǒng)。
受光部分與樣品部分高度相同，樣品側(cè)采用2軸驅(qū)動系統(tǒng)。
它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產(chǎn)品。
大型設(shè)備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
該設(shè)備用于測量大而重的光源，如泛光燈。
這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結(jié)果。
根據(jù)輻射強度繪制配光曲線。
通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
使用球面系數(shù)法，可以得到UV-LED發(fā)射的總光譜通量。
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