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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試霍爾電阻遷移率LEIModel1605非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
LEIModel1605，是非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
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