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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
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薄膜到厚膜的測(cè)量范圍 UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高gao端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無復(fù)雜設(shè)定，操作簡單
更新時(shí)間：2025-09-16
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可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
更新時(shí)間：2025-09-16產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：841
●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè) ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) ●作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 ●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已取得專zhuan利） ●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量（500萬點(diǎn)以上/分）
更新時(shí)間：2025-09-16產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1002
●采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) ●作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 ●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專zhuan利） ●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 ●不受偏差影響 ●可對(duì)應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測(cè)量10m）
更新時(shí)間：2025-09-16產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：987
●通過分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量 ●從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測(cè)量儀器
更新時(shí)間：2025-09-16產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：682
●該檢測(cè)器是一種高性能的分光光度計(jì)，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過程測(cè)量等方面取得了多項(xiàng)成果。 ●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 ●帶軟件的樣品照明電源，測(cè)量儀器批量控制 ●LIV測(cè)量，脈沖點(diǎn)測(cè)量，樣品溫控測(cè)量 ●設(shè)備校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準(zhǔn)公司注冊(cè)。
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